產(chǎn)品時(shí)間：2024-01-03
EIGER2 X CdTe雙能光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器第四代同步加速器的革命性的技術(shù)： EIGER2 X CdTe探測(cè)器是為在高能量段需要高分辨率和高幀速率的科學(xué)家設(shè)計(jì)的。單個(gè)像素尺寸僅為75µm，可檢測(cè)的光子能量高達(dá)100 keV。
EIGER2 X CdTe雙能光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器
1、產(chǎn)品特點(diǎn)：
第四代同步加速器的革命性的技術(shù)：
EIGER2 X CdTe探測(cè)器是為在高能量段需要高分辨率和高幀速率的科學(xué)家設(shè)計(jì)的。單個(gè)像素尺寸僅為75µm，可檢測(cè)的光子能量高達(dá)100 keV。由于死時(shí)間為零，所以每幀之間不會(huì)丟失光子。雙能量閾值可以在兩個(gè)能量段之間做剪影或減少高能量段的背景噪音。第二個(gè)能量鑒別閾值允許你在兩個(gè)能量箱中成像你的樣本，或削減更高的諧波以減少背景。大計(jì)數(shù)速率高達(dá)107光子/秒/像素。EIGER2 X CdTe探測(cè)器性能優(yōu)異且易于集成和操作。
2、核心優(yōu)勢(shì)：
– 量子效率高、能量范圍高達(dá)100KeV
– 沒(méi)有圖像延遲或余輝
– 大計(jì)數(shù)速率高達(dá)107光子/秒/像素
– 兩個(gè)能量閾值
– 電子門控觸發(fā)
– 有效面積大
3、應(yīng)用領(lǐng)域：
– x射線衍射(單晶和粉末)
– 現(xiàn)場(chǎng)和原位技術(shù)
– 衍射顯微鏡和層析成像
– 漫散射和對(duì)分布函數(shù)
EIGER2 X CdTe雙能光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器
4、技術(shù)參數(shù)：
EIGER2 X CdTe | 500K | 1M | 4M | 9M | 16M |
探測(cè)器模塊數(shù)量 | 1 | 1 x 2 | 2 x 4 | 3 x 6 | 4 x 8 |
有效面積：寬x高 [mm2] | 77.2 x 38.6 | 77.2x 79.9 | 155.2 X 162.5 | 233.2 X 245.2 | 311.2 X 327.8 |
像素大小 [μm2] | 75 x 75 | ||||
能量閾值 | 2 | ||||
大計(jì)數(shù)率[光子/秒/像素] | 107 | ||||
| 點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù) | 1 pixel | ||||
CdTe厚度[μm] | 450 | ||||
| 數(shù)據(jù)格式 | HDF5 / NeXus | ||||
| 幀速率 [Hz] | 2000 | 2000 | 500 | 230 | 130 |
尺寸（WHD）[mm3] | 114 x 92 x 242 | 114 x 133 x 242 | 235 x 237 x 372 | 340 × 370 × 500 | 400 × 430 × 500 |
重量 [kg] | 3.3 | 4.7 | 15 | 41 | 55 |
