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高分子材料分析儀

產(chǎn)品時間:2024-01-03

簡要描述:

高分子材料分析儀
1930年Dirac從理論上預言了正電子的存在和1932年Anderson在觀察宇宙線中發(fā)現(xiàn)了正電子之后,揭開了研究物質和反物質相互作用的序幕。1951年Deutsch發(fā)現(xiàn)了正電子和電子構成的束縛態(tài)—正電子素的存在更加深了對正電子物理的研究工作,同時,也開展了許多應用研究工作,形成了一門獨立的課題正電子湮沒譜學。

高分子材料分析儀

   隨著對正電子和正電子素及其與物質相互作用特性的深入了解,使正電子湮沒技術在原子物理、分子物理、固態(tài)物理、表面物理、化學及生物學、醫(yī)學等領域得到廣泛應用,并取得*的研究成果。它在諸如檢驗量子電動力學基本理論、研究弱相互作用、基本對稱性及天體物理等基礎科學中也發(fā)揮了重要作用。同時,隨著人們對正電子湮沒技術方法學上研究的深入進展,使這一門引人注目的新興課題得到更快的發(fā)展。
   實驗用放射源22Na,其衰變綱圖如右圖所示。該源發(fā)生 衰變放出一個正電子后幾乎同時(僅遲3 ps左右)還發(fā)射一個能量為1.28 MeV的 光子。因此,測量1.28 MeV的 光子與正電子湮沒后放出的 光子(0.511 MeV)之間的時間間隔,就可得到正電子壽命。對每個湮沒事件都可測得湮沒過程所需時間。對足夠多的湮沒事件(~106個)進行統(tǒng)計,就可得到一個正電子湮沒壽命譜。
 

高分子材料分析儀?
  系統(tǒng)集成測試報告參數(shù):
                                系統(tǒng)時間分辨率(用50μCi 60Co源測量):
                                保證值:≤ 200ps;
                               典型值:≤ 180ps
 

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